Filmetrics 自動(dòng)測(cè)量光學(xué)膜厚儀
簡(jiǎn)要描述:Filmetrics 自動(dòng)測(cè)量光學(xué)膜厚儀借助F54-XYT-300的光譜反射系統(tǒng),可以快速輕松地測(cè)量200 x 200mm樣品的薄膜厚度。電動(dòng)XY工作臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的測(cè)量點(diǎn)并提供快速的厚度測(cè)量,速度達(dá)到每秒兩點(diǎn)。
產(chǎn)品型號(hào):F54-XYT-300
廠商性質(zhì):代理商
更新時(shí)間:2025-09-12
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Filmetrics 自動(dòng)測(cè)量光學(xué)膜厚儀介紹:
Filmetrics F54-XYT-300 自動(dòng)測(cè)量光學(xué)膜厚儀借助F54-XYT-300的光譜反射系統(tǒng),可以快速輕松地測(cè)量200 x 200mm樣品的薄膜厚度。電動(dòng)XY工作臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的測(cè)量點(diǎn)并提供快速的厚度測(cè)量,速度達(dá)到每秒兩點(diǎn)。
特點(diǎn)優(yōu)勢(shì):
自動(dòng)化薄膜厚度繪圖系統(tǒng),快速定位、實(shí)時(shí)獲得結(jié)果;
可測(cè)樣品膜層:基本上光滑的。非金屬的薄膜都可以測(cè)量;
測(cè)繪結(jié)果可用2D或3D呈現(xiàn),方便用戶從不同的角度檢視;
測(cè)量原理:
當(dāng)入射光穿透不同物質(zhì)的界面時(shí)將會(huì)有部分的光被反射,由于光的波動(dòng)性導(dǎo)致從多個(gè)界面的反射光彼此干涉,從而使反射光的多波長(zhǎng)光譜產(chǎn)生震蕩的現(xiàn)象。從光譜的震蕩頻率,可以判斷不同界面的距離進(jìn)而得到材料的厚度(越多的震蕩代表越大的厚度),同時(shí)也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。

應(yīng)用與膜層范例:
顯示技術(shù)  | 消費(fèi)電子  | 派瑞林  | |
光刻膠  | OLED  | 防水涂層  | 電子產(chǎn)品/電路板  | 
介電層  | ITO和TCOs  | 射頻識(shí)別  | 磁性材料  | 
砷化鎵  | 空氣盒厚  | 太陽(yáng)能電池  | 醫(yī)學(xué)器械  | 
微機(jī)電系統(tǒng)  | PVD和CVD  | 鋁制外殼陽(yáng)極膜  | 硅橡膠  | 
常見(jiàn)工業(yè)應(yīng)用:
半導(dǎo)體制造  | LCD液晶顯示器  | 光學(xué)鍍層  | MEMS微機(jī)電系統(tǒng)  | 
光刻膠  | 聚酰亞胺  | 硬涂層  | 光刻膠  | 
氧化物/氮化物/SOI  | ITO透明導(dǎo)電膜  | 抗反射涂層  | 硅系膜層  | 
晶圓背面研磨  | 
產(chǎn)品參數(shù):
波長(zhǎng)范圍:  | 190nm-1700nm  | 光源:  | 鎢鹵素?zé)?、氘?/p>  | 
測(cè)量nk厚度要求1*:  | 50nm  | 測(cè)量精度2:  | 0.02nm  | 
準(zhǔn)確度*:取較大者  | 1nm或0.2%  | 穩(wěn)定性3:  | 0.05nm  | 
樣品大?。?/p>  | ≤直徑300毫米  | 速度(含有真空平臺(tái)):  | 5個(gè)點(diǎn)-8秒 25個(gè)點(diǎn)-21秒 56個(gè)點(diǎn)-43秒  | 
光斑大小  | 標(biāo)準(zhǔn)500 微米孔徑  | 選配250 微米孔徑  | 選配100 微米孔徑  | 
5X物鏡  | 100μm  | 50μm  | 20μm  | 
10X物鏡  | 50μm  | 25μm  | 10μm  | 
15X物鏡  | 33μm  | 17μm  | 7μm  | 
50X物鏡  | 10μm  | 5μm  | 2μm  | 
Filmetrics 自動(dòng)測(cè)量光學(xué)膜厚儀測(cè)量圖:





