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當(dāng)今世界隨著科技的不斷發(fā)展，人們的生活質(zhì)量得到了極大的提升。在工業(yè)領(lǐng)域，許多科技設(shè)備也在不斷和創(chuàng)新，其中就包括XRF鍍層測厚儀。本文將為大家介紹XRF鍍層測厚儀的工作原理、特點(diǎn)以及應(yīng)用領(lǐng)域。一、工作原理XRF鍍層測厚儀是一種采用X射線熒光分...

光學(xué)輪廓儀廣泛地應(yīng)用于機(jī)械制造業(yè)，儀器儀表和鐘表行業(yè)有關(guān)企業(yè)的計量室和車間，是利用光學(xué)原理將工件輪廓或表面形態(tài)經(jīng)物鏡及反射鏡放大后，投影到投影屏上，使用計數(shù)器或各種標(biāo)準(zhǔn)圖片，進(jìn)行長度、角度、形狀、表面等檢驗和測量工作的儀器。屬于非接觸式、二...

高性能X射線熒光分析儀的分析技術(shù)目前已在地質(zhì)、冶金、材料、環(huán)境等無機(jī)分析領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用，是各種無機(jī)材料中主組分分析重要的技術(shù)手段之一，各種與X射線熒光光譜相關(guān)的分析技術(shù)，如同步輻射XRF、全反射XRF光譜技術(shù)等，在痕量和超痕量分析中發(fā)...

高性能X射線熒光分析儀的分析技術(shù)目前已在地質(zhì)、冶金、材料、環(huán)境等無機(jī)分析領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用，是各種無機(jī)材料中主組分分析重要的技術(shù)手段之一，各種與X射線熒光光譜相關(guān)的分析技術(shù)，如同步輻射XRF、全反射XRF光譜技術(shù)等，在痕量和超痕量分析中發(fā)...

高性能X射線熒光分析儀既可用于材料的組成成分分析,也適用于固體粉末、晶體、薄膜、液體等樣品的分析。根據(jù)樣品分別選配石英池（液體樣品）或固體樣品架（粉末或片狀樣品）。儀器主要由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構(gòu)成。高性能X射線熒光分析儀具有強(qiáng)大的...

薄膜厚度測量儀又稱為覆層測厚儀，原理以及應(yīng)用如下：一、薄膜厚度測量儀原理磁性測厚原理：當(dāng)測頭與覆層接觸時，測頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測量其變化可計算覆蓋層的厚度。渦流測厚原理：利用高頻交電...