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XRF手持式合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術(shù)，可用于確認(rèn)物質(zhì)里的特定元素，同時(shí)將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長(zhǎng)(λ)及能量(E)確定具體元素，而通過(guò)測(cè)量相應(yīng)射線的密度來(lái)確定此元素的量。如此一來(lái)，XRF度普術(shù)就能測(cè)定物質(zhì)的元素構(gòu)成。下...

光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí)，X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，從而測(cè)定材料的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心，采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng)，對(duì)板材厚度進(jìn)行自動(dòng)控制。光...

光學(xué)3d表面輪廓儀不僅僅是用于零部件的檢測(cè)，還有一種可用于生產(chǎn)線上對(duì)生產(chǎn)中的軋材表面缺陷進(jìn)行檢測(cè)的設(shè)備，它以激光檢測(cè)原理完成了缺陷尺寸的在線檢測(cè)。光學(xué)3d表面輪廓儀通過(guò)對(duì)被測(cè)物進(jìn)行缺陷檢測(cè)，實(shí)現(xiàn)了被測(cè)物件的在線連續(xù)式缺陷檢測(cè)，及時(shí)的防止帶缺...

薄膜厚度測(cè)量?jī)x又叫膜厚儀、膜厚測(cè)試儀、膜厚計(jì)或者鍍層測(cè)厚儀（比如GT810F、GT810NF、GT8102等），可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體（如：鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性涂層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等），以及非磁性金屬基...

優(yōu)尼康科技有限公司自2012年成立，一直專注于薄膜厚度與表面輪廓測(cè)量領(lǐng)域，為半導(dǎo)體、面板、LED、消費(fèi)電子、生物醫(yī)療等高科技企業(yè)和高校及研發(fā)中心提供精密測(cè)量設(shè)備與解決方案。本次講座，優(yōu)尼康將邀請(qǐng)多位行業(yè)，結(jié)合各行業(yè)應(yīng)用案例，與您探討在微納級(jí)...

XRF手持式合金分析儀可以使用低功率X射線管分析合金元素。發(fā)射的x射線和返回的x射線都是低功率的，測(cè)量時(shí)必須使手持式合金分析儀接近樣品。理想的是使樣品進(jìn)行直接通過(guò)接觸手持式合金分析儀的測(cè)量窗。如果樣品具有復(fù)雜的幾何形狀，則難以檢查，但手持式...